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  • LET-2000D系列 半导体动态参数测试系统

    LET-2000D系列 半导体动态参数测试系统拥有超宽的电压电流测试范围,无论是低功耗还是高功率器件都能兼容性,涵盖了 MOSFET、IGBT 等多种主流半导体器件类型。同时,系统配备了精良的信号发生与采集模块,可实现高速、稳定的数据传输与处理,为用户提供准确、可靠的测试结果,为半导体研发生产提供可靠支持。 型号:LET-2000D系列
  • LET-5000系列 半导体静态参数测试系统

    LET-5000系列半导体静态参数测试系统具备宽电压大电流测量能力,电压可达 2200V ,电流可达 1000A,μΩ级导通电阻、nA级漏电流及高精度电容测量,确保参数获取。兼容多种半导体器件,从常见的 MOSFET 到新型的 GaN、SiC 器件均能测试。还拥有快脉冲与亚 pA 级电流检测能力,精确计时监测控制,丰富测试功能与模块化设计,可拓展温控等功能。 型号:LET-5000系列
  • 美国力科HDO8000A高分辨率示波器的详细说明书@技术发布

    美国力科HDO8000A高分辨率示波器;
    HDO8000示波器提供8个模拟输入通道,采用力科HD4096高分辨率技术,有着高达12-bit的垂直分辨率,且带宽高达1GHz,是用于调试三相电力电子,汽车电子和机电系统的理想工具。
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  • 美国力科HDO6000A/HDO6000A-MS高分辨率示波器@推荐2025测试报告

    HDO6000A系列示波器应用力科的HD4096技术,结合长存储深度、紧凑轻巧的结构设计、12 1 "多点触摸显示屏和强大的分析和调试软件工具,提供给客户精确测量和快速调试的理想示波器。 型号:HDO6000A/HDO6000A-MS
  • 5G核心网-Spirent LandslideTM E10

    思博伦Landslide E10以小巧便携的尺寸和 端对端全覆盖的方式为您提供思博伦在业 界领先的Landslide测试解决方案。该系统 包含两个千兆以太网和一个多客户端Wi-Fi 和多客户端OTA LTE测试端口,并且支持全 套的Landslide测试功能 型号:LandslideTM E10
  • 思博伦SPT-N4U便携型网络测试仪机箱

    思博伦SPT-N4U便携型机箱是支持思博伦新型10GbE、40GbE和100GbE模块的体积最小的机箱。SPT N4U在设计上通过优化包装和采用技术,降低了支持运行数据网络所需设备与网络环境的测 试成本。 型号:SPT-N4U
  • 思博伦 SPT-N11U网络测试仪机箱

    Spirent SPT-N11U机箱是思博伦10G、40G和100G测试模块的基础运行环境。通过优化打包方式并使用新的技术,SPT-N11U能够有效降低设备和网络测试的成本,为不间断供电的数据网络提供有力的保障。 型号:SPT-N11U
  • 思博伦Spirent A2-400G以太网测试仪

    适用于2U高设备的8和16端口变体,提供最高密度的高速以太网解决方案●每个端口支持以下功能:-PAM4:1x400G,2x200G,4x100G,8x50G-NR 型号:A2

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