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LET-2000D系列半导体动态参数测试系统
LET-2000D系列半导体动态参数测试系统拥有超宽的电压电流测试范围，无论是低功耗还是高功率器件都能兼容性，涵盖了 MOSFET、IGBT 等多种主流半导体器件类型。同时，系统配备了精良的信号发生与采集模块，可实现高速、稳定的数据传输与处理，为用户提供准确、可靠的测试结果，为半导体研发生产提供可靠支持。 型号：LET-2000D系列→
LET-5000系列半导体静态参数测试系统
LET-5000系列半导体静态参数测试系统具备宽电压大电流测量能力，电压可达 2200V ，电流可达 1000A，μΩ级导通电阻、nA级漏电流及高精度电容测量，确保参数获取。兼容多种半导体器件，从常见的 MOSFET 到新型的 GaN、SiC 器件均能测试。还拥有快脉冲与亚 pA 级电流检测能力，精确计时监测控制，丰富测试功能与模块化设计，可拓展温控等功能。 型号：LET-5000系列→
美国力科HDO8000A高分辨率示波器的详细说明书@技术发布
美国力科HDO8000A高分辨率示波器；
HDO8000示波器提供8个模拟输入通道，采用力科HD4096高分辨率技术，有着高达12-bit的垂直分辨率，且带宽高达1GHz，是用于调试三相电力电子，汽车电子和机电系统的理想工具。 型号：→
美国力科HDO6000A/HDO6000A-MS高分辨率示波器@推荐2025测试报告
HDO6000A系列示波器应用力科的HD4096技术，结合长存储深度、紧凑轻巧的结构设计、12 1 ＂多点触摸显示屏和强大的分析和调试软件工具，提供给客户精确测量和快速调试的理想示波器。 型号：HDO6000A/HDO6000A-MS→
5G核心网-Spirent LandslideTM E10
思博伦Landslide E10以小巧便携的尺寸和端对端全覆盖的方式为您提供思博伦在业界领先的Landslide测试解决方案。该系统包含两个千兆以太网和一个多客户端Wi-Fi 和多客户端OTA LTE测试端口，并且支持全套的Landslide测试功能 型号：LandslideTM E10→
思博伦SPT-N4U便携型网络测试仪机箱
思博伦SPT-N4U便携型机箱是支持思博伦新型10GbE、40GbE和100GbE模块的体积最小的机箱。SPT N4U在设计上通过优化包装和采用技术，降低了支持运行数据网络所需设备与网络环境的测试成本。 型号：SPT-N4U→
思博伦 SPT-N11U网络测试仪机箱
Spirent SPT-N11U机箱是思博伦10G、40G和100G测试模块的基础运行环境。通过优化打包方式并使用新的技术，SPT-N11U能够有效降低设备和网络测试的成本，为不间断供电的数据网络提供有力的保障。 型号：SPT-N11U→
思博伦Spirent A2-400G以太网测试仪
适用于2U高设备的8和16端口变体，提供最高密度的高速以太网解决方案●每个端口支持以下功能:-PAM4:1x400G，2x200G，4x100G，8x50G-NR 型号：A2→

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