半导体测试仪的技术特点#技术新闻

型号:ITC55100

产品价格:电议      采购度:197      发布时间:2023/5/8 15:05:07

仪器产地:中国大陆      所属地区:

简要描述: ITC55100 半导体测试仪;
ITC55100C 型号是新一代的行业标准系列 ITC55100 测试仪。该系统是围绕一个非常强大的微控制器设计的,它的时序分辨率为40ns,比代型号快20倍。

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标签:半导体测试仪   测试仪   

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本公司5月8日15点10分报道:ITC55100 半导体测试仪的技术特点#技术新闻

(http://www.app17.com/c96719/products/d11426220.html)

产品描述

ITC55100 半导体测试仪
本公司5月27日11时28分报道:ITC55100 半导体测试仪;(http://www.app17.com/c96719/products/d11426220.html)

产品描述

ITC55100C 型号是新一代的行业标准系列 ITC55100 测试仪。该系统是围绕一个非常强大的微控制器设计的,它的时序分辨率为40ns,比代型号快20倍。其对峰值和零电流的响应时间提高了十倍。结合这一功能,可提高充电和雪崩时间以及报告的峰值排水电流的准确性。

ITC55100C 型号具有双栅驱动器作为标准功能。用户可以设置高达 30V 的总栅驱动器,并可以选择 30V 中有多少为正,有多少是负的。此功能可确保某些设备在雪崩期间保持状态。

ITC55100C 执行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多种类型的测试。方法 3470 通过强调 P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平来测试它们的能力。这是通过驱动未夹紧的电感负载的设备实现的。

•单/双设备测试

• N 通道,P 通道,混合

• 所有固态开关 • 无继电器

• 40ns 的时序分辨率

• 电流范围:0.1A 至 200A,0.1A 步长

• 阿瓦兰奇电压至 2500V

• 双栅驱动,带 30V 回转

• 新的高效开尔文电路

• 传统的 UIL 模式(通过 GPIB)

• 触摸屏程序输入/控制

• 波形捕获/显示

• 内部测试程序存储(20 个文件)

• 高速电感充电,缩短测试时间

• 可编程泄漏测试电压

• 阿瓦兰切/后泄漏测试

• 阿瓦兰奇坍塌测试

• 多功能测试处理程序控制

• 多达 15 个硬件排序箱

• 提高电压/电流精度

• 通过闪存下载进行软件更新

• 参数输入的密码控制

• 使用所有 ITC 电感负载箱运行

• 与 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口

• 简单、完整的用户校准

• 内置自检
ITC55100C
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更新时间:2024/3/14 19:01:20

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