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  • 半导体测试系统的技术特点#技术新闻

    keithley 2600系列半导体测试系统;开发和使用 mosfet、igbt、二管和其他大功率器件,需要全面的器件检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 查看详情
  • 动态参数测试系统的产品研发#技术新闻

    itc57300动态参数测试系统;可在绝缘栅双晶体管(igbt),功率mosfet,二管和其他双器件之类的半导体器件上执行无损瞬态测量. 查看详情
  • 功率器件分析仪#2023动态已更新

    keysight b1505a功率器件分析仪;keysight b1505a 功率器件分析仪 曲线追踪仪是唯一能够对 sub-pa 电平至 10 kv 和 1500 a 的高功率器件进行表征的综合解决方案。 查看详情
  • 半导体测试仪系统的行业应用@技术新闻

    keithley 4200a-scs半导体测试仪系统;使用4200a-scs 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内先性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。 查看详情
  • 功率器件分析仪

    keysight b1505a功率器件分析仪;keysight b1505a 功率器件分析仪 曲线追踪仪是唯一能够对 sub-pa 电平至 10 kv 和 1500 a 的高功率器件进行表征的综合解决方案。 查看详情
  • 半导体测试仪系统

    keithley 4200a-scs半导体测试仪系统;使用4200a-scs 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内先性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。 查看详情
  • 半导体特性分析系统

    keithley 4200-scs型半导体特性分析系统;4200-scs系统是用于器件、材料和半导体工艺电气特性分析的完整解决方案。 查看详情
  • 半导体测试系统

    keithley 2600系列半导体测试系统;开发和使用 mosfet、igbt、二管和其他大功率器件,需要全面的器件检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 查看详情
  • 动态参数测试系统

    itc57300动态参数测试系统;可在绝缘栅双晶体管(igbt),功率mosfet,二管和其他双器件之类的半导体器件上执行无损瞬态测量. 查看详情

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