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  • LET-2000D系列 半导体动态参数测试系统

    let-2000d系列 半导体动态参数测试系统拥有超宽的电压电流测试范围,无论是低功耗还是高功率器件都能兼容性,涵盖了 mosfet、igbt 等多种主流半导体器件类型。同时,系统配备了精良的信号发生与采集模块,可实现高速、稳定的数据传输与处理,为用户提供准确、可靠的测试结果,为半导体研发生产提供可靠支持。 查看详情
  • 动态参数测试系统的产品研发#技术新闻

    itc57300动态参数测试系统;可在绝缘栅双晶体管(igbt),功率mosfet,二管和其他双器件之类的半导体器件上执行无损瞬态测量. 查看详情
  • 功率器件分析仪

    keysight b1505a功率器件分析仪;keysight b1505a 功率器件分析仪 曲线追踪仪是唯一能够对 sub-pa 电平至 10 kv 和 1500 a 的高功率器件进行表征的综合解决方案。 查看详情
  • 半导体测试系统

    keithley 2600系列半导体测试系统;开发和使用 mosfet、igbt、二管和其他大功率器件,需要全面的器件检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 查看详情
  • 动态参数测试系统

    itc57300动态参数测试系统;可在绝缘栅双晶体管(igbt),功率mosfet,二管和其他双器件之类的半导体器件上执行无损瞬态测量. 查看详情
  • 半导体测试仪系统的行业应用@技术新闻

    keithley 4200a-scs半导体测试仪系统;使用4200a-scs 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内先性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。 查看详情
  • 半导体测试仪系统

    keithley 4200a-scs半导体测试仪系统;使用4200a-scs 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内先性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。 查看详情
  • LET-5000系列 半导体静态参数测试系统

    let-5000系列半导体静态参数测试系统具备宽电压大电流测量能力,电压可达 2200v ,电流可达 1000a,μω级导通电阻、na级漏电流及高精度电容测量,确保参数获取。兼容多种半导体器件,从常见的 mosfet 到新型的 gan、sic 器件均能测试。还拥有快脉冲与亚 pa 级电流检测能力,精确计时监测控制,丰富测试功能与模块化设计,可拓展温控等功能。 查看详情
  • 功率器件分析仪#2023动态已更新

    keysight b1505a功率器件分析仪;keysight b1505a 功率器件分析仪 曲线追踪仪是唯一能够对 sub-pa 电平至 10 kv 和 1500 a 的高功率器件进行表征的综合解决方案。 查看详情
  • 半导体特性分析系统

    keithley 4200-scs型半导体特性分析系统;4200-scs系统是用于器件、材料和半导体工艺电气特性分析的完整解决方案。 查看详情
  • 半导体测试系统的技术特点#技术新闻

    keithley 2600系列半导体测试系统;开发和使用 mosfet、igbt、二管和其他大功率器件,需要全面的器件检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 查看详情

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